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涂層板材多層測厚儀

]資料

產(chǎn)品名稱: 涂層板材多層測厚儀
產(chǎn)品型號: CMXDL/DL+
產(chǎn)品展商: 美國DAKOTA
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔

簡單介紹

涂層板材多層測厚儀多種測量方式： 模式一：僅測量基體厚度 模式二：僅測量涂層厚度 模式三：同時測量基體和涂層的厚度 美國DAKOTA公司CMX系列多功能超聲波測厚儀，涂層板材多層測厚儀（基體和涂層）測厚儀可測量材料的厚度，穿透涂層測量材料厚度，也可以測量涂層的厚度。用戶可根據(jù)需求選擇不同的功能配置，以獲得*佳的性價比。

涂層板材多層測厚儀

的詳細介紹

CMX系列超小型多層厚度（基體和涂層）測厚儀

多種測量方式： 模式一：僅測量基體厚度 模式二：僅測量涂層厚度 模式三：同時測量基體和涂層的厚度   美國DAKOTA公司CMX系列多功能超聲波測厚儀，可測量材料的厚度，穿透涂層測量材料厚度，也可以測量涂層的厚度。用戶可根據(jù)需求選擇不同的功能配置，以獲得*佳的性價比。 CMX 除了常規(guī)的超聲波測厚儀的功能外，增加了B-掃描功能和多種測量模式，包括： - 脈沖-回波(P-E)模式，測量材料厚度 - 脈沖-回波涂層(PECT)模式，同時測量材料厚度和涂層厚度 - 脈沖-回波溫度補償(PETP)模式，測量材料厚度 - 回波-回波(E-E)模式，穿過涂層測量材料厚度 - 回波-回波驗證(E-EV)模式，穿過涂層測量材料厚度 - 測量涂層(CT)模式，只測量涂層厚度 CMXDL 在CMX的超聲波測厚儀基礎(chǔ)上，增加了存儲功能。 CMXDL+ 在CMXDL超聲波測厚儀的基礎(chǔ)上，增加了A掃描功能，多種探頭類型(包括雙晶探頭、單晶延遲塊探頭、單晶接觸型探頭、單晶筆形探頭)，另有彩色屏幕主機可選。 詳細資料 技術(shù)參數(shù)   測量   脈沖-回波(P-E)模式測量范圍：0.63～1219.2mm(鋼) 脈沖-回波涂層(PECT)模式測量范圍：0.63～1219.2mm(鋼)，0.0254~2.54mm(涂層) 脈沖-回波溫度補償(PETP)模式 測量范圍：0.63～1219.2mm(鋼) 回波-回波(E-E)模式測量范圍：2.54～152.4mm(鋼，穿過涂層測量，隨涂層厚度的不同，測量范圍也會變化) 回波-回波驗證(E-EV)模式測量范圍：2.54～102mm(鋼，穿過涂層測量，隨涂層厚度的不同，測量范圍也會變化) 測量涂層(CT)模式測量范圍：0.0127~2.54mm(涂層) 分辨率：0.01mm 聲速范圍：309.88～18542m/s 單位：公制或英制 校準：一點和兩點校準方式   顯示   顯示屏：1/8英寸VGA灰色顯示，240x160象素?？梢晠^(qū)62x45.7mm，EL背光 B-掃描方式：基于時間的橫截面視圖。 顯示速度為每秒10到200個讀數(shù) 大數(shù)字方式：標準厚度顯示，數(shù)字高度17.78mm 厚度條形掃描：速度10Hz，在B-掃描和大數(shù)字顯示模式中可見 穩(wěn)定度指示：表示測量值的穩(wěn)定性 功能狀態(tài)指示：顯示當前激活的功能   超聲波參數(shù)   測量模式：P-E、PECT、PETP、E-E、E-EV、CT 脈沖：可調(diào)方波脈沖發(fā)生器 接收：根據(jù)選擇模式在110dB范圍內(nèi)采用手動或AGC增益控制 計時：單次100MHz8位超低功耗數(shù)字化儀的精準TCXO計時 脈沖重復(fù)頻率：250Hz   探頭   頻率范圍：1~10MHz 雙晶探頭 LEMO接口，1.2米探頭線 可定制用于特殊應(yīng)用的探頭   存儲(僅CMXDL)   容量：內(nèi)置4GB SD卡 數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)：網(wǎng)格(字母數(shù)字)和順序(自動識別) 屏幕捕獲：位圖圖形捕獲，用于快速記錄 數(shù)據(jù)輸出：通過USB Type-C連接的計算機   其他   鍵盤：12個觸摸鍵 電源：標配為三節(jié)5號堿性電池 ，可選鎳鎘電池或鋰電池。電量狀態(tài)指示。無操作五分鐘后自動關(guān)機。USB Type-C供電 外殼：擠壓鋁機殼，底蓋用鍍鎳鋁板加密封墊封裝 工作溫度：-10～60℃ 尺寸：63.5x165x31.5mm 重量：含電池385g 包裝：ABS工程塑料箱 出廠證書：工廠校準可追溯到NIST和MILSTD-45662A標準     常用探頭   型號   頻率   探頭晶片直徑   探頭防磨面直徑   測量范圍   說明    PT-102-2700    5.0MHz    6.35mm    9.53mm    1.0～152mm   標準高阻抗探頭    PT-101-2700    5.0MHz    4.76mm    6.35mm    1.0～50mm   小管徑高阻抗探頭    PT-101-2000    5.0MHz    4.76mm    6.35mm    1.0～50mm   小管徑探頭    PT-102-3300    7.5MHz    6.35mm    9.53mm    0.63～152mm   超薄探頭    PT-104-2700    5.0MHz    12.7mm    15.88mm    1.27～508mm   超厚高阻抗探頭    PT-104-2000    5.0MHz    12.7mm    15.88mm    1.27～508mm   超厚探頭    PT-042-2700    5.0MHz    6.35mm    9.53mm    1.0～152mm   標準高溫高阻抗探頭，*高340℃    PT-042-2000    5.0MHz    6.35mm    9.53mm    1.0～152mm   標準高溫探頭，*高340℃    PT-044-2700    5.0MHz    12.7mm    15.88mm    1.27～508mm   超厚高溫高阻抗探頭，*高340℃    PT-044-2000    5.0MHz    12.7mm    15.88mm    1.27～508mm   超厚高溫探頭，*高340℃    PT-212-2001    5.0MHz    6.35mm    9.53mm    1.0～152mm   超高溫探頭，*高480℃    PT-214-2001    5.0MHz    12.7mm    15.88mm    1.27～508mm   超厚超高溫探頭，*高480℃ 注： 測試高溫表面時需用高溫耦合劑 在穿透模式下，高阻抗探頭會有更好的表現(xiàn) 表中的測量范圍為脈沖-回波模式測量范圍

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