微型三角度光澤儀
在正確的角度下 -觀察產(chǎn)品的變化
高-中-低光澤:您的應(yīng)用屬于哪一種?
三角度光澤儀集 20°, 60°, 85° 三種角度于一體 -
如同單角度儀器一樣便攜。三個(gè)角度在一臺儀器上
使您能按國際標(biāo)準(zhǔn)迅速覺察到質(zhì)量的變化。
為了清楚地得到從平光到高光的整個(gè)范圍內(nèi)的光澤度差值,
國際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了三個(gè)角度。每個(gè)角度都在對應(yīng)的光澤范圍內(nèi)
進(jìn)行優(yōu)化測量。
所有被選擇的角度在同一個(gè)點(diǎn)上測量,并立即顯示測量結(jié)果 -
包括:統(tǒng)計(jì)、差值、合格/不合格結(jié)果。
以下例子在20°角下兩個(gè)樣品的讀數(shù)更能顯示出兩個(gè)樣品間
光澤的差異:
微型三角度光澤儀 μ
光澤和厚度測量集于一身
一個(gè)好的涂裝是使用盡可能少的涂料來達(dá)到客戶要求的質(zhì)量
規(guī)格。光澤和厚度是評估涂層質(zhì)量的重要參數(shù)。
微型三角度光澤儀μ可在幾秒內(nèi)在同一個(gè)測量點(diǎn)上同時(shí)測量這
兩個(gè)參數(shù),不僅節(jié)省時(shí)間而且在現(xiàn)場使用也十分理想 - 僅需使
用1臺儀器。
■ 同時(shí)顯示20°, 60°, 85° – 用于高、中、低光澤涂料
■ 磁性/非磁性兩用型探頭 – 在鋼或鋁基材上測量涂層厚度
標(biāo)準(zhǔn)
光澤 厚度
ISO 2813, 7668 2178, 2360, 2808
ASTM D523 B499,D1400
DIN 67530
新型光澤儀S系列
啞光表面處理不僅是新的設(shè)計(jì)趨勢,而且對于要求表面無反
射或低反射這類應(yīng)用而言也是至關(guān)重要的 - 例如汽車內(nèi)飾件。
通常有各種各樣的材料,從皮革到塑料,同時(shí)使用時(shí)需要和
諧一致。另外,從大顆粒到精細(xì)的條紋等各種不同的表面結(jié)
構(gòu)通常呈現(xiàn)出非常低的光澤。為了確保在不同部件上一致的
視覺感受,必須規(guī)定極嚴(yán)格的允差范圍。
只有極其精準(zhǔn)的測試儀器才能客觀地控制生產(chǎn)。新型光澤儀
S系列產(chǎn)品提升了60°角度下在低光澤(0-20GU)范圍內(nèi)的測
量精度。通過在光澤儀生產(chǎn)過程中具有**的校準(zhǔn)程序,保
證了**的精度。
**的儀器間重復(fù)性
技術(shù)指標(biāo)
測量范圍
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0 - 20 GU
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20 - 100 GU
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100 - 2000 GU
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重復(fù)性
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± 0.1 GU
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± 0.2 GU
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± 0.2 %
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重現(xiàn)性
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± 0.2 GU
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± 0.5 GU
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± 0.5 %
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微型光澤儀XS
小部件用小口徑光澤儀
當(dāng)今,很多產(chǎn)品不僅是由不同的部件構(gòu)成,同時(shí)要求這些部
件具有類似的表面外觀。造型優(yōu)美的設(shè)計(jì)已成為產(chǎn)品能否成
功的重要因素,諸如手機(jī)、電腦或者家用電器。需要將小部
件整合到大部件中并融為一體,例如框架、按鍵以及裝飾性
的零部件。這些產(chǎn)品的大小和設(shè)計(jì)使它們很難用傳統(tǒng)的光澤
儀進(jìn)行評估。
微型光澤儀XS為小口徑60°光澤儀,測量口徑2 x 4 mm,是測
量小部件光澤的理想方案,確保使之與大部件相統(tǒng)一。
額外新增的版本是增強(qiáng)型微型60°光澤儀 XS-S, 其技術(shù)性能適
用于測量非常低光澤表面的產(chǎn)品。
特殊應(yīng)用的光澤測量
特殊的材料要求特殊的測量角度:
陶瓷材料,塑料薄膜和硬質(zhì)塑料,紙張和硬紙板不僅可用20°,
60°, 85°常規(guī)角度進(jìn)行測量,也可按照行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)選擇45° 或
75°。
微型光澤儀 45°
對于中低光澤產(chǎn)品,塑料薄膜和硬質(zhì)塑料,不論透明還是不
透明材質(zhì),通常都用45°角來測量。對于透光的薄膜,請用型
號為5015的黑色耐擦洗實(shí)驗(yàn)板作為啞光黑色背景(174頁)墊
于樣品背后。如果沒有合適的背景板,測量會發(fā)生錯(cuò)誤。
標(biāo)準(zhǔn)的測量方法要求每個(gè)樣品至少測量三個(gè)點(diǎn),以獲取光澤
微型光澤儀45°:特別應(yīng)用在陶瓷、塑料和薄膜的光澤測量
均質(zhì)性指征。微型光澤儀統(tǒng)計(jì)測量模式,可顯示平均值和差
值范圍或者顯示測量樣品的均質(zhì)性的標(biāo)準(zhǔn)偏差值。
陶瓷、搪瓷和其他材料使用45°光澤儀,通過測量失光率可以
對比這些材料的耐酸性,耐堿性或者其他環(huán)境因素的影響。
為了評估光澤的變化有必要多次測量整個(gè)樣品表面并取平均
值,確保得到有代表性的結(jié)果。
標(biāo)準(zhǔn)
ASTM C346, D2457
JIS Z8741
技術(shù)指標(biāo)
角度
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應(yīng)用
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測量范圍
|
45°
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陶瓷、塑料、薄膜
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0 - 180 GU
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特殊應(yīng)用的光澤測量
微型光澤儀 75°
特別是有涂層的紙張,還有很多無涂層的紙張都需要進(jìn)行光
澤控制。75°光澤儀適用于大多數(shù)墨膜的紙張和硬板紙。顏
色的差異對測量光澤幾乎沒有影響。例如,一個(gè)白色產(chǎn)品表
面所測得的光澤只會比相同的黑色表面僅高出不到1個(gè)光澤
單位。
光澤非常高的紙張(漆面的,涂漆的,或者上過蠟的)需要
在20°角下測量光澤。
TAPPI(美國紙漿與造紙工業(yè)技術(shù)協(xié)會)標(biāo)準(zhǔn)中定義批量質(zhì)檢
要求檢查至少十個(gè)樣品有無褶皺或其他瑕疵。smart-lab 是理
想的文件處理和數(shù)據(jù)溝通的光澤測量軟件。項(xiàng)目管理功能記
錄材料隨時(shí)間推移的質(zhì)量變化過程,并通過轉(zhuǎn)化為PDF或者
Excel格式發(fā)給相關(guān)人員。
另一個(gè)使用75°特殊角度進(jìn)行光澤測量的典型材料是聚乙烯板
材,其大部分由堅(jiān)硬的PVC制成,用來做建筑物的復(fù)合外墻。
為了評估大面積樣品的均質(zhì)性,可使用“連續(xù)測量模式”,預(yù)設(shè)
測量間隔并將微型光澤儀在樣品上滑行測量,儀器上將顯示
連續(xù)測量的光澤度值。
微型光澤儀75°:特別應(yīng)用在紙張、紙板和表面有結(jié)構(gòu)的塑
料,如聚乙烯板材。
選擇模式... 測量...
標(biāo)準(zhǔn)
ASTM D2457, D3679
ASTM Z8741
TAPPI T480
技術(shù)指標(biāo)
角度
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應(yīng)用
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測量范圍
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75°
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紙張、聚乙烯
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0 - 140 GU
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