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磁粉探傷用標準試片A1、A2、D、C、M1型詳細使用說明

磁粉探傷用標準試片A1、A2、D、C、M1型詳細使用說明:

主要用于檢驗磁粉檢測設備、磁粉和磁懸液綜合性能。了解被檢工件表面有效磁場強度和方向、有效檢測區(qū)以及磁化方法是否正確。

標準試片A1、A2、D、C、M1型規(guī)格中:
名稱 A1型試片  /   A2型試片 D型 C型 M1
試片厚度 微米 100±10 50±5 50±5 50±5 50±5
試片長度 毫米 20±1 20±1 10±0.5 10±0.5 20±1
試片寬度 毫米 20±1 20±1 10±0.5 50±0.5 20±1
分割線間隔 毫米       5±0.5  
圓形人工槽直徑 毫米 高靈敏度 10±0.5 10±0.5 5±0.3   12
中靈敏度         9
低靈敏度         6
十字人工槽長度 毫米 高靈敏度 6±0.3 6±0.3 3±0.2    
中靈敏度          
低靈敏度          
人工槽深度
微米
高靈敏度 15±2.0 7±1.0 7±1.0 8±1.0 7
中靈敏度 30±4.0 15±2.0 15±2.0 15±2.0 15
低靈敏度 60±8.0 30±4.0 30±4.0 30±4.0 30
人工槽寬度    微米 60—180
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 







 磁粉探傷標準試片使用方法:

      標準試片適用于連續(xù)磁化法,使用時應將試片無人工缺陷的面朝外,為使試片與被檢面接觸良好,可用透明膠帶將其平整粘貼在被檢面上,并注意膠帶不能覆蓋試片上的人工缺陷。

      磁粉檢測時一般應選用A130/100型標準試片。當檢測坡口狹小部位,由于尺寸關系可選擇適合大小的試片檢測;當用戶需要或技術文件有規(guī)定時,可選用規(guī)定的試片檢測。

標準試片在檢測前用柔軟紙或紗片將試片表面油擦去;檢測后請防銹。

標準試片表面有銹蝕、褶折或磁特性發(fā)生改變時不得繼續(xù)使用。

A1、A2試片外型規(guī)格一樣。A1試片經(jīng)過退火處理;A2試片未經(jīng)過退火處理。

C型標準試片可剪成5個小試片分別使用。

磁粉探傷用標準試片A1、A2、D、C、M1型詳細使用說明:


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