產(chǎn)品[
磁粉探傷標準靈敏度試片
]資料
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產(chǎn)品名稱:
磁粉探傷標準靈敏度試片
產(chǎn)品型號:
A1/C/D/M1
產(chǎn)品展商:
其它品牌
產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹
磁粉探傷標準靈敏度試片:A型標準試片分為A1、A2;A1為退火材料制成,A2為不作熱處理的冷軋材料制成。試片按JB4730-2005標準特別注明A1試片,與日本JISG0565-6標準和美國ASME SE709標準相對應(yīng)。試片為A1 (15/50μ)標準試片。磁粉探傷標準靈敏度試片
磁粉探傷標準靈敏度試片
的詳細介紹
磁粉探傷標準靈敏度試片性能規(guī)格:
A型標準試片分為A1、A2;A1為退火材料制成,A2為不作熱處理的冷軋材料制成。本試片按JB4730-2005標準特別注明A1試片,與日本JISG0565-6標準和美國ASME SE709標準相對應(yīng)。本試片為A1 (15/50μ)標準試片。相當于A1型試片中2# (30/100μ)標準靈敏度試片,規(guī)格為(8-9)D;適用于中靈敏度探傷,其中括號中分子為槽深,分母為試片厚度,單位為(微米),D為工件直徑。
磁粉探傷標準靈敏度試片
A型靈敏度試片先由日本無損檢測學會提出,以后為多個使用,主要用于零部件的磁粉探傷,在檢查中,對幾何形狀復雜,不同材質(zhì)的工作,可以正確地選擇磁化規(guī)范,并可檢查探傷設(shè)備,磁粉和磁懸液的性能,在磁粉探傷操作過程中,可以避免漏檢,正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向,并對顯示缺陷的磁場強度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者的調(diào)試工具。
磁粉探傷標準靈敏度試片特 點:
磁粉探傷標準靈敏度試片用于磁粉顯示,圖象直觀,使用簡便。對各類零件所有方向的磁場,尤其檢查形狀復雜的零件時,表現(xiàn)其獨特的優(yōu)點。
磁粉探傷標準靈敏度試片包括:
1# 15/100μ
2# 30/100μ
3# 60/100μ
4# 7/50μ
5# 15/50μ
6# 30/50μ
共六片不同規(guī)格的試片組成
磁粉探傷標準靈敏度試片使用方法:
1、標準試片適宜于連續(xù)磁化法,使用時應(yīng)選適當靈敏度的試片,將刻有槽的一面朝向工件,用膠帶紙緊密地貼上,保證試片與被檢面接觸良好,膠帶紙貼于試片兩邊緣,不能覆蓋試片背面的刻槽部位。
2、進行外加懸場法,對工件進行磁化,并在試片上澆以磁懸液或噴磁粉(磁化規(guī)范由低檔逐提高,以顯示磁痕為界,即是磁化電流)。上述步驟完畢后,貼在工件表面上的試片,即可清楚顯示磁痕。
注意事項:
1、試片使用前,用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表面的油漬擦去,再用膠帶紙緊密地貼在工件上,保證試片與被檢面接觸良好。
2、試片用后請涂防銹油。
3、試片有銹蝕、褶折或磁特性發(fā)生改變時不得繼續(xù)使用。
磁粉探傷用標準試片A1、A2、D、C、M1型詳細使用說明:
主要用于檢驗磁粉檢測設(shè)備、磁粉和磁懸液綜合性能。了解被檢工件表面有效磁場強度和方向、有效檢測區(qū)以及磁化方法是否正確。
標準試片A1、A2、D、C、M1型規(guī)格中:
名稱
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A1型試片 / A2型試片
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D型
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C型
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M1
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試片厚度 微米
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100±10
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50±5
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50±5
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50±5
|
50±5
|
試片長度 毫米
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20±1
|
20±1
|
10±0.5
|
10±0.5
|
20±1
|
試片寬度 毫米
|
20±1
|
20±1
|
10±0.5
|
50±0.5
|
20±1
|
分割線間隔 毫米
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5±0.5
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圓形人工槽直徑 毫米
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高靈敏度
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10±0.5
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10±0.5
|
5±0.3
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12
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中靈敏度
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9
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低靈敏度
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6
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十字人工槽長度 毫米
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高靈敏度
|
6±0.3
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6±0.3
|
3±0.2
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中靈敏度
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|
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|
低靈敏度
|
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人工槽深度
微米
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高靈敏度
|
15±2.0
|
7±1.0
|
7±1.0
|
8±1.0
|
7
|
中靈敏度
|
30±4.0
|
15±2.0
|
15±2.0
|
15±2.0
|
15
|
低靈敏度
|
60±8.0
|
30±4.0
|
30±4.0
|
30±4.0
|
30
|
人工槽寬度 微米
|
60—180
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磁粉探傷標準試片使用方法:
標準試片適用于連續(xù)磁化法,使用時應(yīng)將試片無人工缺陷的面朝外,為使試片與被檢面接觸良好,可用透明膠帶將其平整粘貼在被檢面上,并注意膠帶不能覆蓋試片上的人工缺陷。
磁粉檢測時一般應(yīng)選用A130/100型標準試片。當檢測坡口狹小部位,由于尺寸關(guān)系可選擇適合大小的試片檢測;當用戶需要或技術(shù)文件有規(guī)定時,可選用規(guī)定的試片檢測。
標準試片在檢測前用柔軟紙或紗片將試片表面油擦去;檢測后請防銹。
標準試片表面有銹蝕、褶折或磁特性發(fā)生改變時不得繼續(xù)使用。
A1、A2試片外型規(guī)格一樣。A1試片經(jīng)過退火處理;A2試片未經(jīng)過退火處理。
C型標準試片可剪成5個小試片分別使用。